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线扫、超大面阵专用镜头
高分辨率、高亮度、优异的成像质量及成像一致性,针对较大范围的检测需求,支持0.03-5.9X之间倍率选择与调节
ZF系列-针对62mm芯片线扫
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GY系列-针对67mm芯片1.5亿面阵
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ZFL系列-针对82mm芯片高倍率线扫
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